OFIL紫外成像儀關(guān)于電暈放電中紫外器件的影響因素分析
OFIL紫外成像儀關(guān)于電暈放電中紫外器件的影響因素分析
CEPRI–中國(guó)電力研究院在2014年SPIE會(huì)議上進(jìn)行的一項(xiàng)研究分析了Ofil的DayCor®Superb的使用情況。本研究的目的是建立工作原理，考慮外部因素的影響，如檢查距離、檢查角度、攝像頭增益設(shè)置和環(huán)境條件。該研究得出結(jié)論，在對(duì)電氣設(shè)備進(jìn)行比較電暈檢查時(shí)，應(yīng)保持類似條件（如果不相同），并始終記錄。OFIL紫外成像儀分公司|OFIL紫外成像儀總代理|OFIL紫外成像儀代表處|OFIL紫外成像儀總公司|OFIL紫外成像儀辦事處|在哪里
DayCor®Superful as遠(yuǎn)程無損檢測(cè)設(shè)備（NDT）具有出色的電暈檢測(cè)性能，這是由于：
噪聲識(shí)別抑制
**定位高分辨率
紫外-可見疊加精度OFIL紫外成像儀關(guān)于電暈放電中紫外器件的影響因素分析
對(duì)UVc輻射的*高靈敏度
DayCor®攝像機(jī)用于捕捉日冕發(fā)出的紫外線輻射，并利用輻射位置放大故障。電暈預(yù)計(jì)會(huì)在具有不規(guī)則高電場(chǎng)的位置發(fā)展。這些通常表示缺陷、不正確的設(shè)計(jì)、不佳的安裝工藝、污染和其他問題。在調(diào)用該功能時(shí)，攝像機(jī)還可以顯示每秒到達(dá)攝像機(jī)的電暈事件計(jì)數(shù)，在控制影響結(jié)果的所有參數(shù)的實(shí)驗(yàn)室中，顯示值可能會(huì)有所幫助。
在室外進(jìn)行紫外線成像時(shí)，受環(huán)境條件的影響。有些條件與光學(xué)定律有關(guān)，如平方反比定律；有些條件與粒子的量子化學(xué)有關(guān)，如溫度、氣壓、濕度；有些條件與電場(chǎng)和電磁場(chǎng)有關(guān)，如雨滴和冰柱。無論因素是什么，都應(yīng)記錄并在檢查報(bào)告中提及。
按觀測(cè)距離計(jì)數(shù)OFIL紫外成像儀關(guān)于電暈放電中紫外器件的影響因素分析
計(jì)數(shù)與檢驗(yàn)距離的關(guān)系
保留除距離外的所有因素不變，將導(dǎo)致同一光源的不同UV計(jì)數(shù)率。預(yù)期的變化將遵循平方反比定律，即物理量或強(qiáng)度與距離該物理量源的平方成反比。
環(huán)境條件影響電暈的產(chǎn)生和放電量。對(duì)于給定的電暈情況，隨著溫度升高和大氣壓力降低，空氣的介電強(qiáng)度降低，導(dǎo)致電暈起始電壓降低，放電增加。同時(shí)，當(dāng)空氣密度降低時(shí)，紫外輻射在空氣中的吸收系數(shù)降低，紫外脈沖傳播增加。
關(guān)于濕度：一方面，水分抑制電暈的產(chǎn)生，因?yàn)樗兆杂呻娮硬p少導(dǎo)致電暈的電離雪崩過程，但另一方面，飽和可能導(dǎo)致電極上的液滴，這些可能會(huì)通過產(chǎn)生導(dǎo)致電暈形成的突出邊緣來改變電場(chǎng)。OFIL紫外成像儀關(guān)于電暈放電中紫外器件的影響因素分析
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左：50%濕度，每秒4110個(gè)事件。右圖：76%濕度計(jì)0。從相同距離進(jìn)行檢查。組成：主變出線
根據(jù)CEPRI獲得的理論分析和實(shí)際測(cè)試結(jié)果，以下內(nèi)容適用：
影響紫外線成像的因素有濕度、溫度和距離
增加檢查距離會(huì)減少計(jì)數(shù)
隨著濕度的增加，電暈受到抑制，計(jì)數(shù)下降，但背景噪聲增加
建議在濕度相對(duì)較低的晴天進(jìn)行檢查
對(duì)于比較和趨勢(shì)檢測(cè)，應(yīng)在同一距離以自由視線進(jìn)行
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