OFIL電暈檢測(cè)儀應(yīng)用于輸變電設(shè)備巡檢中的紫外成像檢測(cè)技術(shù)

隨著我國(guó)遠(yuǎn)距離特高壓輸電線路的投運(yùn)，長(zhǎng)期高場(chǎng)強(qiáng)、高負(fù)荷的運(yùn)行和復(fù)雜惡劣的環(huán)境都會(huì)導(dǎo)致輸變電設(shè)備產(chǎn)生電暈放電現(xiàn)象，長(zhǎng)期的電暈放電會(huì)使輸變電設(shè)備發(fā)生電化學(xué)腐蝕，從而影響電力系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。紫外成像檢測(cè)作為一種新興的技術(shù)，開(kāi)始逐漸廣泛運(yùn)用到高壓電力設(shè)備電暈、電弧的檢測(cè)、高壓變電站及輸電線路的維護(hù)等電力系統(tǒng)高壓檢測(cè)領(lǐng)域中。OFIL電暈檢測(cè)儀應(yīng)用于輸變電設(shè)備巡檢中的紫外成像檢測(cè)技術(shù)OFIL紫外成像儀分公司|OFIL紫外成像儀總代理|OFIL紫外成像儀代表處|OFIL紫外成像儀總公司|OFIL紫外成像儀辦事處|在哪里

因?yàn)榉烹娺^(guò)程中伴隨著紫外線（ultraviolet）的輻射。紫外線輻射是所有波長(zhǎng)大于10nm小于400nm的輻射，由于臭氧層的吸收作用，接近地球表面的太陽(yáng)輻射的波長(zhǎng)均大于290nm，紫外成像檢測(cè)技術(shù)探測(cè)240～280nm的波段，因此不受太陽(yáng)光線的干擾和影響。紫外成像檢測(cè)技術(shù)具有抗干擾強(qiáng)、定位精度高、檢測(cè)時(shí)不影響電力設(shè)備正常運(yùn)行等優(yōu)點(diǎn)。OFIL電暈檢測(cè)儀應(yīng)用于輸變電設(shè)備巡檢中的紫外成像檢測(cè)技術(shù)進(jìn)口紫外成像儀|OFIL紫外成像儀|OFIL紫外成像儀代表處在哪|OFIL紫外成像儀分公司在哪|OFIL紫外成像儀辦事處在哪|OFIL紫外成像儀總代理在哪

輸變電設(shè)備的正常工作是電力系統(tǒng)**可靠運(yùn)行的重要保障，輸變電設(shè)備在不同的大氣環(huán)境下工作，隨著長(zhǎng)期運(yùn)行、外力破壞及自然災(zāi)害等原因，會(huì)出現(xiàn)絕緣性能降低、設(shè)備結(jié)構(gòu)損壞和表面污穢等問(wèn)題。紫外成像檢測(cè)技術(shù)能快速地對(duì)輸變電設(shè)備進(jìn)行巡檢并找出故障點(diǎn)，以便于進(jìn)行維修。紫外成像作為新興的檢測(cè)技術(shù)主要應(yīng)用在絕緣子放電故障檢測(cè)、架空導(dǎo)線放電故障檢測(cè)和均壓環(huán)放電故障檢測(cè)中。

紫外成像檢測(cè)技術(shù)的原理圖所示，它主要由接收光學(xué)系統(tǒng)、紫外成像模塊、可見(jiàn)光攝像模塊、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和圖像融合等模塊組成。

入射光進(jìn)入接收光學(xué)系統(tǒng)后分成兩束，一束可見(jiàn)光進(jìn)入可見(jiàn)成像通道，另一束紫外光進(jìn)入紫外成像通道，可見(jiàn)光通道用于接收可見(jiàn)光信號(hào)，即拍攝環(huán)境物體圖片，可見(jiàn)光經(jīng)電荷耦合器件（charge coupled device, CCD）探測(cè)器后進(jìn)入數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。OFIL電暈檢測(cè)儀應(yīng)用于輸變電設(shè)備巡檢中的紫外成像檢測(cè)技術(shù)

紫外成像通道用于接收放電過(guò)程中發(fā)射的紫外線輻射，紫外光經(jīng)紫外日盲濾波鏡進(jìn)行濾波，濾過(guò)波長(zhǎng)240nm至280nm以外的紫外光，再通過(guò)光電陰極、增益放大通道將紫外光信號(hào)轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光信號(hào)，后經(jīng)CCD探測(cè)器進(jìn)入數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。兩路光信號(hào)*后經(jīng)過(guò)圖像融合模塊進(jìn)行融合處理，從而將紫外成像通道的圖像疊加到可見(jiàn)光通道的圖像上。

紫外成像檢測(cè)儀的實(shí)際檢測(cè)距離都不是固定的數(shù)值，檢測(cè)距離對(duì)光子數(shù)的測(cè)量有著非常明顯的影響（“光子數(shù)”通常作為量化放電程度的重要參數(shù)），即使對(duì)同一放電現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)量，檢測(cè)距離越遠(yuǎn)，紫外成像儀測(cè)量到的光子數(shù)越小。因此，檢測(cè)距離無(wú)法統(tǒng)一到標(biāo)準(zhǔn)數(shù)值，很難對(duì)不同檢測(cè)距離下的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行對(duì)比，從而無(wú)法對(duì)不同檢測(cè)距離下測(cè)得的放電程度進(jìn)行對(duì)比。

基于上述實(shí)際存在的問(wèn)題，將光子數(shù)修正到標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)距離下具有重要的意義。

更多OFIL電暈檢測(cè)儀應(yīng)用于輸變電設(shè)備巡檢中的紫外成像檢測(cè)技術(shù)信息請(qǐng)直接致電歐菲爾儀器上海。