以色利OFIL紫外成像儀為什么要進(jìn)行檢查電暈放電造成的損害
電暈放電表明：
糟糕的硬件設(shè)計(jì)
硬件安裝不正確
硬件損壞
硬件污染
腐蝕硬件
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電暈放電造成的損害
電暈放電有多種損壞模式：
1.可聽噪音和無線電干擾
電暈放電會(huì)產(chǎn)生標(biāo)志性的嗡嗡聲，這實(shí)際上并沒有破壞性，但可能會(huì)刺激附近的人類和動(dòng)物。如果諧波產(chǎn)生正干擾，則會(huì)導(dǎo)致導(dǎo)體振動(dòng)。
無線電干擾不太可能直接造成損壞，但它可能會(huì)導(dǎo)致電子設(shè)備無法正常工作或運(yùn)行不穩(wěn)定，從而導(dǎo)致設(shè)備損壞。以色利OFIL紫外成像儀為什么要進(jìn)行檢查電
暈放電造成的損害
2.紫外線
電暈放電產(chǎn)生的紫外光將導(dǎo)致聚合物硬件加速老化，進(jìn)而導(dǎo)致硬件比預(yù)期更早失效。
紫外線也會(huì)影響各種動(dòng)物，它們可以看到紫外線范圍。
這導(dǎo)致了馴鹿遷徙的問題。
3.電離
電離過程從電暈放電開始：
電暈是一種局部放電，電子發(fā)射到空氣中。電子發(fā)射的機(jī)理屬于物理領(lǐng)域。
整個(gè)過程始于宇宙射線電離高壓硬件周圍空氣中的單個(gè)分子，使電子偏離軌道。
在這個(gè)階段，碰撞使分子被激發(fā)。分子想要回到它的中性狀態(tài)，它通過釋放多余的能量作為光子來實(shí)現(xiàn)。光子的頻率取決于被激發(fā)分子的原子和鍵類型。
在此過程中釋放的自由電子在其負(fù)相期間被硬件周圍的電場排斥，在正相期間被吸引。
如果斥力將電子推到足夠高的速度，那么在與另一個(gè)空氣分子碰撞時(shí)，它將導(dǎo)致不止一個(gè)電子被踢出。
當(dāng)兩個(gè)或兩個(gè)以上的電子被碰撞釋放時(shí)，就形成了雪崩。
雪崩將持續(xù)下去，直到電場強(qiáng)度降低到不能將電子加速到足以在碰撞過程中釋放電子的速度為止。以色利OFIL紫外成像儀為什么要進(jìn)行檢查電暈放電造成的損害
在N2（我們周圍空氣的主要成分）的情況下，發(fā)射的光頻率主要在400nm以上僅5%的UV范圍內(nèi)，這被認(rèn)為是可見藍(lán)色的*低端。
N2熒光的光譜，在垂直拉伸1000倍之后。
電離的分子也可以與其他分子合并以共享其剩余的電子。
即
O2+e-=2O-
O-+O2=O3（O區(qū)）
O型區(qū)非常活潑，會(huì)氧化金屬，導(dǎo)致生銹。
N2&O2+e-=2N++2O-
N++5O-=NO2+O3
NO2+H2O+O2=HNO3
硝酸在硬件上表現(xiàn)為白色灰塵。
硝酸會(huì)去除金屬零件上的鍍層，并腐蝕所有零件上的涂層。以色利OFIL紫外成像儀為什么要進(jìn)行檢查電暈放電造成的損害
電離活動(dòng)可形成多種其他分子，即
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2.碳酸
探測電暈放電
臭氧層只允許一些頻率以不同的體積通過。
在280nm以下，N2熒光發(fā)出的光是可見的。這就是所謂的日盲區(qū)。
為了能夠以一種有用的方式可視化和可見圖像，必須使用2種類型的攝像機(jī)以及合適的光學(xué)元件。
檢測到的UV圖像疊加在可見圖像上，以顯示放電發(fā)生的位置。紫外斑點(diǎn)為假彩色，以便觀察
評(píng)估概述以色利OFIL紫外成像儀為什么要進(jìn)行檢查電暈放電造成的損害
一旦發(fā)現(xiàn)放電，用戶的直接問題是：“這是一個(gè)重要故障嗎？”。
這不是一個(gè)完全正確的問題，所有的錯(cuò)誤在某種程度上都很重要。問題應(yīng)該是：“該故障的維護(hù)優(yōu)先級(jí)是什么？”區(qū)別在于，故障可能很重要，但可能不需要立即注意，因?yàn)榇嬖诟鼑?yán)重的故障，或者預(yù)期的故障時(shí)間將導(dǎo)致在下一個(gè)現(xiàn)場維護(hù)日期之后很久的故障。
接下來的問題是如何分配維護(hù)優(yōu)先級(jí)？許多用戶立即查看相機(jī)獲得的“計(jì)數(shù)”，但這是不正確的，因?yàn)橛?jì)數(shù)不容易比較（由于影響計(jì)數(shù)的因素很多）。如果將計(jì)數(shù)重新計(jì)算到標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)，則計(jì)數(shù)充其量可用作檢查時(shí)的損壞率指示器。計(jì)數(shù)根據(jù)環(huán)境天氣而變化，這也意味著計(jì)數(shù)不能作為趨勢練習(xí)的一部分使用——除非可以在完全相同的條件下進(jìn)行檢查——可能性非常小。
分配維護(hù)優(yōu)先級(jí)的*可靠方法是使用美國電力研究所（EPRI）開發(fā)的維護(hù)優(yōu)先級(jí)評(píng)級(jí)系統(tǒng)。系統(tǒng)根據(jù)放電損壞其所處或附近硬件的能力、物理損壞的存在
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